PMC5565反射内存卡电子故障注入与诊断

　　反射内存卡电子故障注入与诊断

　　故障注入是指针对特定的故障模型，有意识的在目标系统中催出故障，加速其错误和失效的发生，通过分析系统对所注故障的回应信息，可以验证其容错和故障安全等信息。

　　对于*电子平台来讲，必须具有很高的运行稳定性、健壮性和可维修性。因此在*电子系统的设计、研发和测试过程中充分考虑各种异常状态可能带来的影响，是系统设计的重要内容。故障注入通过模拟电子设备及其接口可能发生的异常( 包括物理连接失败、性能参数下降、功能失效、时序错误等)，可对电子系统进行更全面的测试和验证。

　　NI 为电子故障注入与诊断提供了的软硬件综合平台，结合基于PXI 总线的故障注入模块（FIU）、电压电流激励源、各种矩阵开关模块以及MILSTD-1553/ ARINC-429/ AFDX 等航空总线接口模块可模拟*电子设备与接口所发生的异常，并且可通过NI 的各种信号调理与采集模块将目标系统的回应信息进行采集分析。NI LabVIEW、NI TestStand 等软件为故障注入与诊断提供了高效的ATE 测试程序开发与测试流程管理解决方案。